DVIデバイスのキー・コンポーネンツであるPLL回路の応答特性は信号品質に大きな影響を与えます。
信号発生器から位相をステップ変動させたクロック信号をDVIデバイスに送り込み、再生されたクロック信号をオシロスコープで解析することにより簡単にPLL回路のループ・バンド幅試験を行うことができます。
位相変動を含む再生クロック信号よりTIEのジッタトラック波形を得ます。これを微分することによりインパルス・レスポンスを算出し、さらにFFT演算により周波数特性を導き出します。
|
|
|
図10 PLLループ・バンド幅の測定図 |
|
|
|
|
|
図9 Clock
Recovery Unit Frequency Response |
| |
.gif) |
|
図11 PLLループ・バンド幅の測定 |
|
