
静的もしくは動的スロットIDとFlexRayシンボルでトリガをかけたり、FlexRay信号の上に色 分けされたデコード情報を表示したり、自動アイパターン・マスク試験を実行して、物理層タイ ミング測定が行えます。
FlexRayトリガ/デコード物理層試験パッケージはオシロスコープにFlexRayシステムの設計/デバッグに便利なツールを追加します。強力な内蔵FlexRayトリガは速く特定のIDやメッセージを見つけることができ、デコードされたデータを独自の手法で直接物理層信号の上に重ね書き表示す ることができます。アイパターンとタイミング測定は、物理層の問題をすばやく見つけることができます。レクロイの FlexRayトリガ/デコード物理層試験パッケージはFlexRayの試験時間を大幅に短縮できます。
オシロスコープに組み込まれたFlexRay トリガを使うと、特定のF lexRayメッ セージを分離することができます。トリ ガ・デバイスがFlexRayノードではない ので、FlexRayバスへの接続が簡単で す。車載ネットワークをプログラムし直す必要はなく、単に差動プローブで FlexRay信号をピックアップしてくださ い。すべてのトリガはオシロスコープの 中で行われ、レクロイのトリガ・メニュー に完全に組み込まれています。
アイパターン・マスク試験は、捕捉した信 号波形をビットごとに分離してアイパ ターンを作成し、検出した不良ビットを 分離することができるので物理層の問 題をすばやく見つけることができます。 アイパターン・マスク試験と内蔵された 自動FlexRayタイミング測定を組み合 わせるとFlexRayの物理層の性能をす ばやく評価できます。
直観的なインターフェースと広範なプロトコル条件設定により、複雑なFlexRayのプロトコルでも簡単にトリガをかけることができます。単純にTSS(Start)シンボルでトリガをかけて単発でト リガをかけるような用途でも、ID、サイクルカウン ト、サイクル繰り返しファクター、フレーム・クォリファイアを含む全てのFlexRayフレームの特定の部分で選択的にトリガをかけるようにも用途にも利用できます。FlexRayが定めたシンボルやエ ラーを選定し、必要に応じて単純な設定でも複雑な設定でも行うことができます。条件付きトリガ は、フレームIDまたはサイクルの値を特定の範囲で、トリガをかけることができます。
メニューの設定により、FSS、BSS、FES、CRC、CID、CAS/MTSとスリープ解除を含むシンボルとエラーと同様にFlexRayフレームのあらゆる条件でトリガできます。
アイパターンは多くのシリアル・データ規格試験において重要な部分を占めていますが、FlexRayでも同様です。超高速シリアル・データ信号で開発されたレクロイの技術を導入して、FlexRayア イパターン・マスク試験は、FlexRay信号の全てのビット波形を重ね合わせてアイパターンを描き、合否判定を行います。マスクの違反が起きれば即座に信号捕捉を停止するように設定し、すばやく物理層の問題の原因が見つけることができます。特定のフレームIDまたはある範囲のIDにトリガをかけるように設定す ることによって、アイパターンはトリガをかけたフレームだけで描くことができます。
アイパターン、物理層計測とデコードしたプロトコルデー タを同時にみることにより、FlexRay通信チャンネルの振る舞いを詳細に把握することができます。
アイパターンがFlexRayシステムの理解に役立ち ますが、伝播遅延、非対称遅延、トランケーション やジッタのような鍵となるタイミング・パラメー タを測ることによって、信号がどのようにチャンネルを流れるかが理解できます。レクロイの統計表示とヒストアイコンを使うと、FlexRayチャンネル上での測定値の範囲が把握できます。

FlexRay仕様によって規定される測定パ ラメータで、チャンネルの特性が測定できます。レクロイのヒストグラム、トラッ ク、トレンドを用いた統計解析で、チャンネルの長時間にわたる振る舞いを把握す ることができます。
デコードされた情報をテーブル表示にすることで、オシロスコープをプロトコル・アナライザのよ うに使うことができます。表をカスタム設定して必要な情報だけを表示したり、Excelファイルに表データをエクスポートすることができます。テーブルのメッセージにタッチすると、その波形が自動的に拡大され、詳細を確認することができ ます。
分かりやすいテーブルにプロトコル情報を表示します。特定の行をタッチするとその波形が拡大でき、またボタンひとつでExcelにファイルをエキスポートすることができます。
IDまたはデータ値に特定の値を入力することで、すばやく検索できます。長い信号捕捉では、NEXTボタンを押して現在のメッセージの左右のバイトに移動します。

長時間に渡るデコードされ たデータからメッセージもしくはアドレスを入力し、左右の検索ボタンを押して検索することができます。
レクロイはここで紹介したFlexRayと同様の強力なトリガと直観的なデコード機能をCAN、 LIN、I2C、SPIとUARTにも提供しています。MSシリーズ・ミックスド・シグナル・オプションは オシロスコープに18本または36本のデジタル・ チャネルを追加し、アナログとデジタルのクロス・ パターン・トリガを使って、アナログとデジタル信号およびシリアルデータ信号の全てを同時に観測することができる完全な組込システムの試験ができます。
| 説明 | FlexRaybus TDP |
|---|---|
| プロトコルの設定 | ビットレートの選択(2.5、5または10Mbps)、VlexRayのチャンネルの選択(AまたはB) |
| デコード機能 | |
| フォーマット | 10進で表示されるサイクル・カウント以外は全て16進でデコード |
| デコードの設定 | 2つのしきい値の設定が必要、デフォルトでは振幅のパーセントで設定、ビットレートの選択 FlexRayのチャンネルの選択(A またはB) |
| デコードの入力 | 全てのアナログ入力、メモリまたは演算波形 |
| デコードの数 | 最大4つのバスまで同時でコードが可能。拡大波形にもデコード情報を表示可能 |
| 表示場所 | グリッド上のデータ波形の上に重ね書き表示(注:2つ以上のデコードを表示する場合にはグリッドを分割すること) |
| 機能 | TSS、FSS、フレーム・クォリファイア、スロットID、ペイロード長、ヘッダCRC、サイクル・カウント、データ、BSS、 ペイロードCRCとFESを色分け表示 デコード情報は時間j軸設定に応じて最適の長さで表示 |
| トリガ機能 | |
| フォーマット | フレームIDは16進またはバイナリ、サイクル・カウントは10進 |
| トリガの設定 | TSS(Start)、フレームID、サイクル・カウント、シンボルまたはエラーでトリガ シンボル: チャンネル・アイドル・デリミタシンボル(CID)、衝突防止シンボル(CAS)、メディア・アクセス・テスト・シンボル(MIS)、ウェークアップ・パターン(WUP) エラー: フレーム開始シーケンス(FSS)エラー:TSSと最初のバイトの間にロジック・ハイの時間が長すぎた場合にトリガ バイト開始シーケンス(BSS)エラー:BSSパターンがバイトの期待される位置で検出されない場合にトリガ フレーム終了シーケンス(FES)エラー:FSが最後のバイトの後に検出されない場合にトリガ |
| フレームID、サイクル・ カウント条件の設定 | ≦、<、=、>、≧、範囲内、範囲外、Don’t care |
| データの設定 | 16進:データ・バイト数=0〜8、データはニブル単位で設定可能、特定した範囲内、もしくは位置に関係なく設定したデータ・パターンでトリガが可能 バイナリ:0、1とXの組み合わせで、1〜64ビット設定、特定した範囲内、もしくは位置に関係なく設定したデータ・パターンでトリガが可能。 |
| ビットレート | 2.5、5または10Mbpsを選択可能 |
| トリガ入力 | 全てのアナログ入力、または外部入力 |
| トリガ条件 | 他のオシロスコープのトリガと同様に、内部のトリガ回路の設定 |
| 物理層試験 | |
| アイパターン | TP1とTP4におけるマスクを使った不良検出機能付きアイパターン・マスク試験 |
| フォーマット | 伝達遅延、非対称遅延、トランケーション、ジッタ |
| 検索機能 | |
| パターン検索 | Next ID、Next FrameまたはNext Errorで検索、データ入力は16進 |
| FlexRaybus TD | |
| FlexRaybus TDPと同様のデコード、トリガと検索機能。但し、物理層試験機能は含まない。 | |
| FlexRaybus D | |
| FlexRaybus TDPと同様のデコード機能のみ。 | |
| モデル名 | |
| WRXi-FlexRaybus TDP* | FlexRayトリガ/デコード/物理層試験パッケージ |
| WRXi-FlexRaybus TD* | FlexRayトリガ/デコード・パッケージ |
| FlexRaybus D*2 | FlexRayデコード・パッケージ |
(*2) WaveRunner6000、WavePro7000、WaveMaster8000、SDAの各シリーズで対応
。
| FlexRay関連資料 | ||
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FlexRaybus TDP FlexRayトリガ/デコード物理試験パッケージ (2008年3月発行) |
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