Serial ATAコンプライアンス・テスト・ソリューション
詳細試験
SDA-SATAを使えば、前述したSATA
IIのRevision2.5に従ったパラメータ評価を半自動で行うことができます。右の図のように、必要な信号接続などが画面に現れるので、その指示に従うことで全ての試験が行われます。試験の終了時には、試験結果がHTML形式のレポートとして出力されます。
特に、SDA-SATAはGen1とGen2で異なるジッタ計測法のどちらもサポートしているため、詳細なジッタ計測をオシロスコープを用いて行うことができます。
| Test Parameter |
Reference Number |
| Channel Speed |
6.2.2.1.1 |
| FBaud |
|
| Tui, Unit Interval |
6.2.2.1.3 |
| Ftol, Long Term Frequency Tolerance |
6.2.2.1.4 |
| Fssc, SSC frequency |
6.2.2.1.5/6.3.3 |
| SSCtol, SSC Modulation Deviation |
6.2.2.1.6/6.3.3 |
| Vcmdc, DC coupled Common Mode Voltage |
6.2.2.1.7 |
| Vcmac, AC coupled Common Mode Voltage |
6.2.2.1.8 |
| VdiffTx, Tx Differential Output Voltage |
6.2.2.3.1 |
| T2080Tx, Rise and Fall Time |
6.2.2.3.3 |
| Tskew, Tx differential skew |
6.2.2.3.4 |
| Vcmactx, Tx AC Common Mode Voltage |
6.2.2.3.5 |
| Amp bal, Tx Amplitude Imbalance |
6.2.2.3.10 |
| Tj Connector, Data-Data, Gen 1i/1m, 5UI |
6.2.2.3.11/6.3 |
| Dj Connector, Data-Data, Gen 1i/1m, 5UI |
6.2.2.3.11/6.3 |
| Tj Connector, Data-Data, Gen 1i/1m, 250 UI |
6.2.2.3.11/6.3 |
| Dj Connector, Data-Data, Gen 1i/1m, 250 UI |
6.2.2.3.11/6.3 |
| Tj Connector, Clock-Data, Gen 2i/2m, fbaud/10 |
6.2.2.3.12/6.3 |
| Dj Connector, Clock-Data, Gen 2i/2m, fbaud/10 |
6.2.2.3.12/6.3 |
| Tj Connector, Clock-Data, Gen 2i/2m, fbaud/500 |
6.2.2.3.12/6.3 |
| Dj Connector, Clock-Data, Gen 2i/2m, fbaud/500 |
6.2.2.3.12/6.3 |
| Tj After CIC, Clock-Data, Gen 1x/2x, fbaud/1667 |
6.2.2.3.12/6.3 |
| Dj After CIC, Clock-Data, Gen 1x/2x, fbaud/1667 |
6.2.2.3.12/6.3 |
SDA-SATAを用いたSATAのコンプライアンス試験項目

SDA-SATAによるコンプライアンス試験結果のレポート例
テスト・パターン
SATAのコンプライアンス・テストでは、HFTP、MFTP、LFTP、LBPと呼ばれる特定のパターンの信号を対象としてパラメータの計測が行われます。
対象信号は、テスト・フィクスチャを用いてオシロスコープに直接接続しなければならないため、被測定デバイスから上記のテスト・パターンを自発的に出力させなければなりません。多くのデバイスではBIST(Built-In
Self-Test)モードに対応しているため、BISTモードを用いて必要なテストパターンを出力させる方法がよく用いられます。BISTを正しく起動させるには、トラフィックジェネレータからBIST
Activate FISを送るのが確実です。
トラフィック・ジェネレータとデバイスで通信を行い、BISTモードを起動させ特定のテスト・パターンを発生させます。一旦BISTモードでテスト・パターンが出力されると、リセットがかからない限りそのテスト・パターンの出力を停止しません。従って、SATAケーブルを外してリンクが解除された後もテス
ト・パターンを出力し続けるので、テスト・フィクスチャを介してオシロスコープに接続して試験を行うことが可能となります。

BISTモードでテスト・パターンを発生させるスクリプトの例
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| BISTモードを利用したコンプライアンス・テスト接続例 |
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BISTモードでテスト・パターンを発生させるスクリプトの例 |
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