WaveExpert Series Sampling Oscilloscopes

WaveExpert 100H

데이터 패턴의 각 에지에서 정규화된 Q-스케일 분석이 이루어집니다. 선으로 표시된 부분의 기울기가 랜덤 지터값이며, Q=0으로 된 지점의 폭에서 BUj를 측정합니다.

• 230 fs rms 자체 타임베이스 지터
• 모든 데이터 속도에서도 완벽한 종합 지터 분석
• Q-스케일을 이용한 지터 브레이크다운
• 랜덤 지터
• Data Dependent Jitter (DDj)
• Bounded Uncorrelated Jitter (BUj)
• 파형 내에 존재하는 모든 에지들을 분석
• 하나의 버튼으로 지터 측정 가능
   

기존 샘플링 오실로스코프에서는 반복 포착 방법을 사용하여 파형의 샘플링을 수행하였습니다. 이 경우 속도가 느리고 높은 자체 지터가 존재했고, 트리거 지터가 적은 트리거 신호가 필요하였습니다. 르크로이의 특허받은 HCIS 타임베이스는 230 fs 지터값을 가지고 있으며, 100배 빠른 샘플링 속도를 제공합니다.

HCIS는 PLL 을 타임베이스 내에 내장하여 장비의 샘플링 클럭이 테스트 대상 신호의 비트열로부터 복원합니다. 이 방법의 장점은 빠른 샘플링, 높은 선형성, 낮은 지터를 광범위한 주파수 대역에서 제공한다는 것입니다. 빠른 샘플링 속도와 긴 파형 메모리는 정규화된 Q-스케일 기술을 사용하여 지터 분석을 할 때 필수적인 요소 입니다.

WaveExpert는 혁신적인 Q-Scale 지터 분석 소프트웨어를 탑재하여 지터 시나리오에 관계없이 가장 정확한 측정값을 제공합니다. 기존 지터 분석을 수행하는 오실로스코프에서는 지터 스펙트럼의 정확한 측정에 초점을 두었습니다. 이 방법은 정확하지 못하고 크로스토크나 전원 공급 노이즈가 발생할 때 지터 측정값을 왜곡할 수 있습니다. 정규화된 Q-Scale 방법은 지터 스펙트럼이 아니라 측정된 지터 분포를 사용하여 랜덤과 바운드된 컴포넌트를 결정합니다. 데이터 패턴이 반복되는 신호를 측정하는 경우, 데이터 패턴에 의해 발생되는 DDJ는 지터 측정 결과로부터 제거할 수 있으므로, 결과적으로 BUj를 측정할 수 있습니다.

CIS 타임베이스를 통해 완벽하게 지터 측정을 수행합니다. 토탈 지터, 랜덤 지터, 디터미니스틱 지터와 그 콤포넌트-DDj, ISI, DCD-를 분석할 수 있습니다.

지터 분석에서는 데이터 패턴내에 존재하는 모든 에지들을 분석에 사용합니다. 슬로프와 이상적인 위치로부터의 차이는 데이터에 의존하는 지터로 측정됩니다. 모든 개별 에지들은 분리하여 위와 같이 아이의 중앙에서 관측할 수 있습니다.

기존의 반복 샘플링 타임베이스 장비와 다르게 HCIS는 광범위한 주파수 대역에서 매우 낮은 지터 노이즈 플로어를 제공하고 있습니다. 위의 도표에서는 다양한 전송속도를 가진 신호를 일반 장비의 지터 성능과 HCIS 방식으로 측정한 결과를 비교하고 있습니다.

HCIS 타임베이스는 정규화된 Q-Scale 지터 분석법과 조화되어 포함된 지터의 종류에 관계없이 정확한 지터 측정이 가능합니다. 위의 도표에서는 스펙트럼 방식의 지터 측정 결과와 Q-Scale 방식을 이용한 지터 측정 결과를 비교하고 있습니다. WaveExpert 100H는 아주 큰 사인 형태의 지터와 BUj가 아주 크게 포함되어 있어도, 가장 정확한 지터 측정값을 제공하고 있습니다. HCIS 타임베이스는 가장 낮은 노이즈 플로어를 가지고 있으므로 BERT 보다 정확한 지터값을 측정할 수 있습니다.

지터 분석에서는 패턴 록 파형을 사용하여 패턴 내에 존재하는 모든 에지를 측정합니다. 히스토그램은 모든 에지에 포함된 랜덤, 언코릴레이트 지터를 통합한 지터 히스토그램 입니다.