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オシロスコープ
レクロイ・セミナー資料
White Papers(ホワイト・ペーパー)
2006.10.17
エレクトロニクス アップデイト 【2006年10月号】追加しました。
エレクトロニクス アップデイト 【2006年10月号】
470K
ジッタ解析Dj/Rj分離解析の限界
レクロイが提案する新たなジッタ解析の手法
・Dual-Diracモデル
・DDjの性質
・DDjの計測
・DDj計測の問題点
エレクトロニクス アップデイト 【2006年1月号】
470k
回路シミュレーションのリアルタイム検証
オシロスコープにPSpiceを組込み実信号でシミュレーションを行う新手法
・SLPSの概要
・PSpiceモデルのオシロスコープへの組込み
・利点と応用
エレクトロニクス アップデイト 【2005年12月号】
600K
オシロスコープでイミュニティ試験を迅速かつ高度に解析するWaveRunner6000用EMCパルス・パラメータ・パッケージ
・ロングメモリの必要性
・計測対象パルスの選択
・統計解析
エレクトロニクス アップデイト 【2005年11月号】
400k
シンボリック・デコードにより新たなCAN統合解析を実現するレクロイ社のVBAビークル・バス・アナライザ
・DBCファイルを使ったシンボリック解析
・複数ラインの同時解析機能
・CANトリガのシンボリック設定
・CAN信号の解析
LeCroy 社デジタル・オシロスコープと回路シミュレータPSpiceA/D の連携例
420K
・回路シミュレータOrCAD PSpiceA/D 概要
・オシロスコープとPSpiceA/D の連携設定
エレクトロニクス アップデイト 【2005年10月号-2】
85K
レクロイ、UWB(Ultra Wideband)無線通信を解析する
プロトコル・アナライザ・システム「UWBTracer」を発表
エレクトロニクス アップデイト 【2005年10月号-1】
900K
VisualBASIC.NETを使ったCustomDSOのPlug-in作成法
SerialATAプロトコル解析ソリューション
・.NETでの変更点
・プログラムの技法
・SATAプロトコルのデコード
エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-2】
300K
PCI Express Gen2対応コンプライアンス・テスト・ソリューション「SDA-PCIE-G2」
・SDA-PCIE-G2の概要
・Gen1のVer1.1仕様
・X-Replay
エレクトロニクス アップデイト 【2005年09月号-1】
650K
レクロイのSDAの新機能マルチ・アイパターン
複数のマスクで複雑な信号を評価
・SDA(Serial Data Analyzer)に新機能(マルチ・アイパターン機能)を搭載
エレクトロニクス アップデイト 【2005年08月号】
700k
高速シリアル・インタフェースのレシーバー解析に新提案
イコライザ・シミュレーションをオシロに組込んだシリアル・データ解析
・イコライザの効果
・シミュレーションの活用
・オシロスコープの機能との融合
・サンプリング・オシロスコープでの応用
エレクトロニクス アップデイト 【2005年07月号】
400K
サンプリング・オシロスコープで10MS/sを実現した画期的タイムベースCIS(Coherent Interleaved Sampling)の解説
・シーケンシャル・サンプリング
・コヒーレント・サンプリング
・10MS/sの高速サンプリング
・パターン・ロック
・低ジッタ
Jump the Power Curve
高速・広帯域・ロングメモリを実現した2つの革新的テクノロジ
2MB
エレクトロニクス アップデイト 【2005年06月号-2】
600KB
シリアル・データ解析と周波数特性バンド幅だけでは分からない測定品質
・測定帯域
・フラットネス
・グループ・ディレイ
・DSP
・測定帯域とジッタ測定性能
・SDA11000
エレクトロニクス アップデイト 【2005年06月号-1】
450KB
オシロスコープの性能を飛躍的に高めるDBI(Digital Bandwidth Interleave)技術次期シリアル・インタフェースの転送速度に対応
・SiGe技術
・DBIテクノロジ
・信号品質とジッタ特性
・アップグレード・パス
エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-2】
160k
6Gbps以上のシリアル・データ信号の測定用に最適な
11GHz帯域シリアル・データ・アナライザ「SDA-11000」
・開発背景
・製品概要
・主な特長
エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-1】
400k
世界最高帯域100GHzと超高速サンプリングを実現した
サンプリング・オシロスコープ「WaveExpertシリーズ」
・モノリシック・サンプラ
・豊富なモジュール
・ロングメモリとパターン・ロック
・アイパターン解析
・タイムベース
・TDR計測
・ジッタ解析とSDA100G
エレクトロニクス アップデイト 【2005年03月号-2】
350K
16ビット・コントローラのデバッグに最適な「MS-32」
4chオシロスコープに32ビット・デジタル・チャンネルを追加
・開発背景
・「MS-32」の概要
・「MS-32」のトリガ機能
エレクトロニクス アップデイト 【2005年03月号-1】
500K
CAN信号のデータ値をプロットするなど
高度な解析機能を搭載した「CANbus TDM」
・CANbus TDMの概要
・CANbus TDMの新機能
・CANメッセージの値のプロット
・CANbus TDの機能強化
エレクトロニクス アップデイト 【2005年02月号】
60k
レクロイとCATCの統合
シリアル・データ・マーケット戦略の強化
・CATC社の紹介
・プロトコル層解析ソフトウェア
・プロトコル層解析ハードウェア
・レクロイの戦略
エレクトロニクス アップデイト 【2005年01月号】
700k
レクロイ、WindowsベースのオシロスコープにNI社のLabVIEWを組込み機能強化する手法
・XstreamDSOのカスタマイズ機能について
・LabVIEWの組込み
・LabVIEW組込みの応用例1(パラメータ演算)
エレクトロニクス アップデイト 【2004年12月号】
400k
オシロスコープのデータ管理/レポート作成機能
レクロイの新製品「LabNotebook」
・保存データベース
・波形表示画面へのコメントの挿入
・レポートの作成
エレクトロニクス アップデイト 【2004年11月号】
900K
高速差動信号を忠実にピックアップするプローブ・ソリューション
レクロイの広帯域差動プローブ「D600ST」
・フレキ基板を利用した3種類のリード
・用途に応じた自由な組み合わせ
・負荷効果と信号品質
エレクトロニクス アップデイト 【2004年10月号】
420k
6種類のRj / Dj の分離法
目的に合わせて選ぶアルゴリズム
・3つの目的
・3つのアルゴリズム
エレクトロニクス アップデイト 【2004年9月号】
720K
簡便な操作で高精度のジッタ測定
広範なアルゴリズムに対応したジッタ・ウィザード
エレクトロニクス アップデイト 【2004年8月号】
530k
サイン補間の数学的考察
デジタル・オシロスコープの補間手法の技術的背景
・サンプリングの数学的意味
・サイン補間
・サイン補間の限界
エレクトロニクス アップデイト 【2004年7月号】
300k
高精度のタイミング測定を保証する
レクロイ社の高機能プローブ校正ジグTF-DSQ
・多様なプローブに対応
・デスキュー
・DC ゲインの校正
エレクトロニクス アップデイト 【2004年6月号】
600K
CAN信号の物理層/プロトコル層の相関解析
レクロイ社のCANbus TDトリガ/デコーダ
エレクトロニクス アップデイト 【2004年5月号】
1.2MB
PCI Expressコンプライアンス・ソリューション
レクロイの新ソフトウエア・パッケージ「PCIE」
・コンプライアンス試験
・コンプライアンス・パッケージPCIE
・PCI Express信号の高度な解析
エレクトロニクス アップデイト 【2004年4月号】
300K
ロジックとアナログ混在信号の解析
WaveRunner6000とGoLogicの組み合わせ
エレクトロニクス アップデイト 【2004年3月号】
300K
Serial ATAのジッタ解析
N Cycle VS Nプロット
エレクトロニクス アップデイト 【2004年1月号】
400K
青色レーザの信号評価
次世代光ディスクの普及を促進
・OE425/525
・光カップリング
エレクトロニクス アップデイト 【2003年12月号】
650K
Simulinkによるシミュレーションをオシロスコープに組む
・WaveRunner6000シリーズについて
・Simulinkについて
・MATLABの組み込み
・MATLABからSimulinkモデルの利用
エレクトロニクス アップデイト 【2003年11月号】
400K
【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
VisualBASICで完全カスタマイズできるオシロスコープWaveRunner6000シリーズ
・CustomDSOとオートメーション・コマンド
・VisualBASICによるPlug-inの作成
・Plug-inのインストール
エレクトロニクス アップデイト 【2003年10月号】
400K
【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
DSOによるソリューション<高速シリアル通信におけるジッタの基礎知識>
・ジッタの意味
・ジッタ計測パラメータの比較
・統計的な比較
・シリアル通信におけるジッタの考え方
エレクトロニクス アップデイト 【2003年9月号】
700k
【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
IEEE1394aの信号評価における受信データの選択的品質評価
・WaveMasterシリーズのカスタマイズ機能
・IEEE1394aのアイパターン評価
・受信データの選択的信号評価
エレクトロニクス アップデイト 【2003年8月号】
600K
【エレクトロニクス アップデイト誌掲載記事】
Spiceによる伝送路シミュレーションを利用した、シリアル信号の評価
・SDAのシリアル・データ・解析
・Spiceシミュレーション
・DFP2
・Spiceシミュレーションとシリアル・データ解析
エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-01】
500K
シリアル・データにおけるプリエンファシスの解析
レクロイ独自のISIプロット機能の応用
・プリエンファシス
・アイパターンとISIプロット
・オーバーエンファシス
エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-02】
2MB
USB2.0コンプライアンス・テスト・パッケージ「USB2」
・製品概要
・主な機能
・対応機種
エレクトロニクス アップデイト 【2003年7月号-03】
500K
第二世代スイッチング電源解析ソフト「PMA2」
・対応機種
・主な機能
・PMA2ソフトウエアの応用例
エレクトロニクス アップデイト 【2003年6月号-01】
500K
マルチレベル信号の解析
SDA シリーズの柔軟なマスク作成機能
・マスクのカスタマイズ
エレクトロニクス アップデイト 【2003年6月号-02】
400K
モジュール式計測器を用いた信号解析手法
安価で短期間に自動計測システムの構築が可能
・PXIとは
・PXIモジュールの必要条件
・A/Dモジュールの選択
エレクトロニクス アップデイト 【2003年5月号】
430K
SDAシリーズによるDjとRjの分離解析
高速シリアル・インタフェースにおける重要な課題
・トータル・ジッタ,br>・DjとRj成分
・トータル・ジッタの考え方・DjとRjの分離・その他のDj成分
エレクトロニクス アップデイト 【2003年4月号】
850K
レクロイのジッタ測定精度
統計学を基礎とした評価法
・ジッタ測定値の精度
・信頼範囲としてのジッタ精度の仕様
・ジッタの分布 ・DjとRjの分離・その他のDj成分
エレクトロニクス アップデイト 【2003年3月号-01】
370K
3Gbpsシリアル・データの解析 SDAシリーズ
・アイパターン測定
・ジッタ解析
・フィルタ
・シミュレーション
・マスク・テスト
・ISI解析
・ペア内スキュー
・その他のDj成分
エレクトロニクス アップデイト 【2003年3月号-02】
1.5MB
7.5GHz帯域の新設計差動プローブ WaveLinkシリーズ
・減衰率とシステム帯域
・ツインチップとハンドフリー・プローブ・ホルダ
・入力容量とインピーダンス・プローブ・インタフェース
エレクトロニクス アップデイト 【2003年2月号】
776K
高速信号の測定に最適なデジタル・オシロスコープ
3GHz帯域で1M Ω入力を標準装備したWavePro7000
・シミュレーションとオシロスコープ
・カスタマイズ機能
・プローブ・インタフェース
エレクトロニクス アップデイト 【2002年12月号】
1.3MB
高性能デジタル・オシロスコープでフィルタの検証
MATLABを組む
・MATLABの組み込み
・MATLABによるフィルタの設計
・フィルタの検証
エレクトロニクス アップデイト 【2002年10月号】
649K
高速シリアル・インタフェースを多角的に解析
シリアル・データ・アナライザSDAの紹介
・基本性能
・アイパターン測定
・ロングメモリ・データを元にしたアイパターン・
マスク・テスト
エレクトロニクス アップデイト 【2002年9月号】
917K
ユーザの望むカスタマイズを実現する高性能デジタル・オシロスコープ
WaveMaster ・外部解析ソフトとの連携
・プログラムの作成
・PLLのシミュレーション
・演算結果の取扱い
エレクトロニクス アップデイト 【2002年8月号-01】
164K
ギガビット・イーサネット・テスト・パッケージソフトの紹介
・開発の背景
・製品の概要
・主な応用分野
エレクトロニクス アップデイト 【2002年8月号-02】
173K
小型、軽量、低価格のカラー・デジタル・オシロ Waverunner2
・開発の背景
・製品の概要
・主な仕様
米国EDN誌 【2003年2月6日号】(日本語要約版)
1.6MB
【EDN誌掲載記事】
The scopes trial hands on project
Ultrawideband real time DSO's
・レクロイとテクトロニクスのオシロを比較実験
米国EDN誌 【2003年2月6日号】(英語版)
214K
【EDN誌掲載記事】
The scopes trial
EDN Japan 【2002年3月号】
700K
WaveMaster8500の紹介
・A-D変換器にSiGeチップ採用
・Gビット・イーサ用ICを使う
・Windows2000に変更