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| WaveExpert100H | |
| 帯域 | 20〜100GHz |
| 立ち上がり時間 | 4〜18ps |
| チャンネル数 | 1〜4ch |
| 最高サンプリング 速度（/ch） |
1MS/s(シーケンシャル) |
| RMSジッタ | 1.2ps rms（代表値）±遅延の1ppm |
| トリガ帯域 | 5GHz/13.5GHz |
| モデル名 | |
| WE-CIS | サンプリング・オシロスコープ・メインフレーム |
| WE-HCIS | 高精度CISタイムベース・オプション |
| WE-XXL | 510Mワード・メモリ・オプション |
| WE-SDA | シリアル・データ/ジッタ解析オプション |
| EYEDR | EyeDoctor解析オプション |
| EYEDR_VP | VirtualProbingオプション |
| EYEDR_EQ | EquolizerEmulationオプション |
モジュール各種
| モデル名 | 帯域 | |
| SE-100 | 100GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| SE-70 | 70GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| SE-50 | 50GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| SE-30 | 30GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール |
| ST-20 | 20GHz | エレクトリカル・サンプリング・モジュール（TDR対応） |
| SO-50 | 50GHz | オプティカル・サンプリング・モジュール |
| SO-25 | 28GHz | オプティカル・サンプリング・モジュール |
| SO-10 | 10GHz | ハイ・ゲイン・オプティカル・サンプリング・モジュール （プラグイン型リファレンス・レシーバ付） |
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世界初の100GHz帯域を実現したサンプリング・モジュールSE-100では、HHI社のO/Eを取り付けてフェムト秒レーザーのパルスを計測して得られたパルス波形をFFTして装置の周波数特性を確認することができます。100GHz以上でも十分な応答があることが見て取れます。
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12万8千倍 ロングメモリで波形取り込み CISモードでは、長いパターンでも簡単にロックできるので、1パターン分波形を取り込んで、ズーム機能で波形の詳細を観測できます。 |
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75倍 超高速アイパターン試験 CISモードでは、10MS/sの超高速サンプリングにより300万ポイントのアイパターンも1秒以下で捕捉、表示ができます。 |
追加のTDR用モジュールは、立ち上がり時間が20 ps未満のTDRパルスを出力できますが、この値は既存の機器と比較して30%も速度が向上しています。したがって、WaveExpertシリーズはTDR（Time Domain Reflectometry）の測定にも最適です。
WaveScan（不良信号検索機能）標準装備
稀に起きる不良信号を検索、拡大表示します。
検出された不良信号の一覧表示、ヒストグラム、重ね書き表示などが可能です。(WaveScan詳細ページ)
| LeCroy Resources | ||
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WaveExpert
100Hカタログ (2008年1月発行) |
PDF File 2.9MB |
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Jump the Power Curve 高速・広帯域・ロングメモリを実現した2つの革新的テクノロジ (2005年6月発行 LJDN-CT-GE-0174-0001) |
PDF File 2MB |
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エレクトロニクス アップデイト 【2005年07月号】 サンプリング・オシロスコープで10MS/sを実現した画期的タイムベースCIS(Coherent Interleaved Sampling)の解説 |
PDF File 400K |
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エレクトロニクス アップデイト 【2005年04月号-1】 オシロスコープの性能を飛躍的に高めるDBI（Digital Bandwidth Interleave）技術次期シリアル・インタフェースの転送速度に対応 |
PDF File 450K |
