Digital Scopes

【無料】USB3.0プリテストサービスのご案内
〜USB-IFワークショップ参加の準備をお手伝いします〜

【開催日】2012年3月16日(金)
【開催地】東陽テクニカ (東京都中央区)
【共催】株式会社東陽テクニカ、レクロイ・ジャパン株式会社


USB-IFワークショップと同じ機材を使った、プリテストサービス(無料)を実施いたします。

開催概要

参加費用 無料
プリテスト内容 リンク層、物理層試験単独でもお申込可能です。
● リンク層試験(A-1〜A-3)
● 物理層試験(B-1〜B-3)
使用試験仕様  リンク層、物理層
 USB-IF制定のUSB3.0 V0.90 (2011年1月末日現在)
使用機材 リンク層試験機材
  ● LeCroy Voyager M3i (プロトコル・アナライザ/エキササイザ)
  ● Link Layer Compliance Test Suites
物理層試験機材
  ● LeCroy SDA820Zi-A(TX試験用デジタル・オシロスコープ)
  ● QPHY-USB3-Tx-Rx(自動コンプライアンス試験実行ソフトウェア)
  ● PeRT3 Eagle(RX試験用レシーバ試験機)
開催日時 2012年3月16日(金)

リンク層試験、物理層試験 それぞれ3セッション
10:00〜12:00、13:00〜15:00、15:30〜17:30
開催場所 株式会社東陽テクニカ 本社 9階セミナー室
  アクセスマップ

 (TIセンタービルではございませんのでお間違えのないようにご来場ください。)

定 員 1セッションにつき1社(5名)まで
申込み

定員につき申込締め切りました。

問い合わせ レクロイ・ジャパン株式会社
プリテストサービス
TEL: 042-402-9400
E-Mail:contact.jp@lecroy.com

セッションスケジュール

3月16日(金) リンク層試験 物理層試験
10:00〜12:00 A-1 B-1
13:00〜15:00 A-2 B-2
15:30〜17:30 A-3 B-3


 ご案内ちらし ・ダウンロード(PDF)

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