シリアル・データ転送

完全な測定ツールセットによる卓越したパフォーマンス

近年、デジタル・データ信号の転送形式は急速にシリアル形式にシフトしています。パラレル・データと比較した場合、シリアル・データには、拡張性、高速性、簡潔性など、いつくものメリットがあります。一方、昨今のシリアル・データ規格では特殊な測定方法や適合性試験が求められるため、シリアル・データの測定は複雑さを増しています。

レクロイのSDAシリーズのシリアル・データ・アナライザは、高精度と高スループットでシリアル・データ信号の試験や測定が行える専用の解析システムです。SDAシリーズのシリアル・データ・アナライザでは、アイ・パターン、ジッタ、ビット・エラーの測定がサポートされるほか、広範なシリアル・データ規格に基づいて様々な信号パラメータ（立ち上がり時間やオーバーシュートなど）を解析することができます。

シリアル・データ解析に対するソリューション

アイパターン測定
マスクテスト
ジッタ解析
ISI解析
バスタブ・カーブによるエラー予測
SDAによる解析ビデオ(flash)

アイパターン測定
ソフトウエア Golden PLL によるクロック再生
シリアルデータ解析では、通常クロック信号によりトリガをかけアイパターン表示をしますが、クロック信号がえられない場合、データ信号からクロックを再生（CDR：クロック・データ・リカバリ）してデータのアイパターンを表示する機能が必要となります。
SDAシリーズはソフトウエアによるGolden PLL機能を用いてCDRを行いアイパターンを表示させるため、ユーザの指定したPLLの周波数応答を設定して、所望とするデータのアイパターンを正確に示さえることができます。（拡大画像）

ロングメモリによるトリガジッタゼロのアイパターン
従来のサンプリングオシロスコープによる連続捕捉のアイパターンとは異なり、上記のソフトウエアCDRとロングメモリと単発トリガにを活用すると、測定器内部のジッタをゼロに押えた非常に鮮明なアイパターンを表示することができます。　この表示により、サンプリングオシロスコープでは確認できなかったパターン依存性のジッタ等もアイパターン上で確認することができます。
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ジッタ解析
シリアルデータのジッタを測定には通常TIE（Time Interval Error）によるジッタ計測が行われます。TIEは、データ・ビットの理想エッジの位置と実際のデータ信号のエンジに位置の偏差で定義されます。また、この偏差はその特性により、ランダム性のジッタ“Rj”とパターン依存性の“Dj”に分類され、Djはさらにそのジッタの要因となっているものにより、Pj(Periodic Jitter) / DCD (Duty Cycle Distortion) / DDｊ（Data Dependant jitter)等に分類されます。　TIEはヒストグラム表示によりその統計的な特性が確認され、さらにこれらの各ジッタ成分にパラメータ表示されます。（右画像拡大・下画像拡大） Page Top

マスクテスト
シリアルデータの信号品位を確認するため、をそれぞれの規格で定められたマスクテンプレートによるマスクテストを行います。 SDAシリーズのロングメモリ捕捉を活用したマスクテストでは、マスクに接触したビットパターンを個別に摘出して表示させることが可能です。（画像拡大） Page Top

ISI解析
捕捉したシリアルデータ信号の同じビットパターン（右図は6ビットによる例）毎にアベレージングをしてランダムジッタを除去し、再びアイパターン表示したものがISIアイパターン表示です。　SDAシリーズのISI表示では、ユーザが選択したビット数で、個別のバターンを表示させることができるため、各ビットパターンから派生するISIのDj成分を確認することが可能です。（左画像拡大・右画像拡大） Page Top

バスタブ・カーブによるBER予測
TIEヒストグラムからDj/Rj成分を分離することにより、BER（Bit Error Rate)を推測するためのバスタブ・カーブを描くとこができます。バスタブ・カーブは、横軸がデータのタイミングで両端が1UIに相当し、縦軸はエラーレートです。　このカーブからあるエラーレート（縦軸任意のポイント）を想定すると、そのエラーレートにおけるアイの開口率を知ることができます。　また逆にあるアイの開口率またはタイミングマージンがわかれば、対応するエラーレートを推定することもできます。（画像拡大） Page Top